告別石英：全球首款無晶體無線MCU改進物聯(lián)網(wǎng)設計
2020-05-13 15:11
Medtec China
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BAW技術被評為高級工業(yè)標準
由于許多MCU會在易受沖擊和振動的環(huán)境（如工廠和汽車）中工作，因此德州儀器已根據(jù)相關軍用標準對CC2652RB進行了全方位測試。軍用標準（MIL）－STD－883H 2002試驗方法旨在測試石英晶體振蕩器的耐用性。本標準會將半導體器件置于在野蠻裝卸、運輸或現(xiàn)場操作時由突然力或運動突然變化而引發(fā)的中等或嚴重的機械沖擊（加速度峰值為1500 g）下。此類沖擊可能會干擾運行特性，或造成類似于過度振動導致的損壞，特別是在沖擊脈沖反復出現(xiàn)的情況下。
圖2所示為MIL－STD－883H的機械沖擊試驗裝置，圖3顯示了CC2652RB與外部晶體解決方案相比的頻率變化。從圖中可以看出，最大頻率偏差約為2 ppm，而外部晶體解決方案在2440 GHz時的偏差約為7 ppm。
圖2：機械沖擊試驗裝置和試驗裝置框圖。（圖片來源：德州儀器）
圖3：對比BAW和晶體器件上的機械沖擊引起的最大無線電（2440 GHz）頻率偏差（百萬分之一）。（圖片來源：德州儀器）
結論
BAW技術通過減少部分關鍵設備（如醫(yī)療設備）所需的空間，使物聯(lián)網(wǎng)應用于高沖擊／振動頻率的領域，它是物聯(lián)網(wǎng)不斷發(fā)展、持續(xù)演化的產(chǎn)物。未來，BAW技術將廣泛應用于眾多領域，讓世界聯(lián)系得更加緊密。
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